(1) Світло, випромінюване широкосмуговим джерелом низької когерентності (наприклад, SLED), розділяється на два пучки за допомогою розділювача променя (або волоконного з’єднувача), що потрапляє в опорне плече та плече зразка відповідно.
(2) Світло в еталонному плечі відбивається назад дзеркалом.
(3) Після того, як світло в плечі зразка освітлює досліджувану тканину або матеріал, зворотне розсіяне світло з різних глибин повертається.
(4) Два промені рекомбінуються в розділювачі променів; сигнал перешкоди генерується лише тоді, коли різниця оптичного шляху між двома плечами потрапляє в довжину когерентності джерела світла. Така коротка когерентна довжина забезпечує високу осьову роздільну здатність системи.
(5) Шляхом сканування положення еталонного дзеркала або використання частотної розгортки для отримання сигналів перешкод система може реконструювати двовимірні або тривимірні томографічні зображення зразка шар за шаром.
|
компонент |
Опис функції |
|
Джерело світла SLED |
Забезпечує широкосмугове світло з низькою когерентністю, слугуючи основним джерелом світла для системи OCT для досягнення високої осьової роздільної здатності; зазвичай працює в ближньому інфрачервоному діапазоні 800–1550 нм. |
|
Оптоволоконний з’єднувач/спліттер |
Розділяє джерело світла на плече зразка та еталонне плече та об’єднує ехо-сигнали з обох плечів у детектор. |
|
Зонд |
Фокусує світловий промінь на поверхні або всередині зразка та збирає назад відбиті/розсіяні оптичні сигнали з різних глибин. |
|
Довідкове дзеркало |
Забезпечує стабільний опорний оптичний шлях. Він змінює довжину оптичного шляху еталонного плеча за допомогою точного осьового сканування, реалізує узгодження сигналу інтерференції з відбитим світлом від різних глибин зразка та завершує сканування з роздільною здатністю по глибині. |
|
PD |
Виявляє інтерференційні оптичні сигнали від плеча зразка та еталонного плеча. |
|
Система збору даних (DAQ) |
Перетворює фотоелектричні сигнали в цифрові сигнали для обробки в реальному часі та зберігання комп’ютером. |
|
ПК |
Обробляє отримані сигнали перешкод за допомогою таких алгоритмів, як швидке перетворення Фур’є (ШПФ), і реконструює 2D або 3D томографічні зображення зразка з високою роздільною здатністю. |
840 нм 20 мВт SLED широкосмугове джерело світла
840 нм 10 мВт 35 нм BW SLD діод
Джерело світла SLD 1060 нм 1064 нм
Q1: Яка довжина хвилі (в нм) широкосмугового джерела світла SLD зазвичай використовується в OCT?
A1: Біомедичне зображення → 800–1060 нм;
Промислова інспекція/Волоконна оптика → 1300–1550 нм.
Q2: Чи потрібен ізолятор для широкосмугового джерела світла SLED?
A2: Для промислового застосування необхідно самостійно оцінити величину відбитої оптичної потужності; якщо це гарантовано, може знадобитися кілька ізоляторів.
Q3: Джерела світла SLD, які ви надаєте, мають вбудовану схему драйвера?
A3: Так, ми пропонуємо модульні рішення, які об’єднують лазерний чіп, схему драйвера та (опціонально) волоконний сполучник. Це дозволяє безпосередньо використовувати або подальшу системну інтеграцію без потреби замовника підключати зовнішній драйвер.
-
